2025年3月26日-28日，為期三天的2025慕尼黑上海電子生產(chǎn)設(shè)備展（productronica China）圓滿落幕。鐳晨科技深耕工業(yè)光學(xué)檢測(cè)十余年，以AI工業(yè)大模型技術(shù)為引擎，帶來DIP爐后AO、DIP 3D AOI以及新一代3D AOI和3D SPI。以創(chuàng)新、先進(jìn)的產(chǎn)品，吸引了眾多觀眾駐足了解。

    在電子制造過程中，產(chǎn)品質(zhì)量的檢測(cè)是保障生產(chǎn)優(yōu)良的重要環(huán)節(jié)。以汽車制造行業(yè)為例。汽車的特殊工作環(huán)境、安全性和大電流等要求特點(diǎn)，對(duì)PCBA的可靠性、穩(wěn)定性等要求非常嚴(yán)苛。但由于元件布局密集或高矮器件的遮擋，在AOI檢測(cè)過程中，常規(guī)的2D AOI只能獲取正面圖像，而傳統(tǒng)的3D AOI因顏色算法局限性，以及成像易受干擾，極易出現(xiàn)誤報(bào)漏報(bào)。

  鐳晨科技展出的新一代3D AOI——AIS431，采用側(cè)面多相機(jī)3D成像系統(tǒng)，一個(gè)投影搭配4個(gè)相機(jī)。無論是側(cè)面絲印還是遮擋器件，結(jié)合側(cè)面圖像，都能獲取更加全面的成像信息。而AI大模型技術(shù)的加持，能有效消除因器件遮擋、光線反射帶來的成像拉尖、塌陷等，獲取更加真實(shí)的3D成像，讓新一代3D AOI的檢測(cè)能力更上一層樓。

  例如爬錫引腳的檢測(cè)。傳統(tǒng)AOI通過向物體投射不同角度的摩爾條紋光被主相機(jī)接收，由于引腳密集、光線受影響，導(dǎo)致出現(xiàn)過渡擬合的問題，引腳成像不全面，極易出現(xiàn)誤報(bào)。現(xiàn)在，結(jié)合多個(gè)側(cè)面圖像，我們可以獲取更多視角的圖像信息，結(jié)合AI算法剔除噪聲，保留引腳爬錫坡度的細(xì)節(jié)，為不良檢測(cè)夯實(shí)基礎(chǔ)。

  新一代3D AOI在上海慕尼黑展會(huì)一經(jīng)展出，便吸引了眾多觀眾現(xiàn)場(chǎng)體驗(yàn)，“我們的產(chǎn)品工藝越來越復(fù)雜，之前試用過很多3D AOI，都很難滿足我們?nèi)娴臋z測(cè)需求。鐳晨新一代3D AOI采用了多側(cè)面相機(jī)，成像更全面、檢測(cè)速度更快，今天過來展會(huì)真是收獲驚喜”！

  除了SMT段的3D AOI，鐳晨科技搭載了上照2D檢測(cè)、下照3D檢測(cè)的DIP 3D AOI，在展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)也是備受矚目。DIP 3D AOI——AIS550能同時(shí)進(jìn)行元件2D檢測(cè)以及底面焊點(diǎn)引腳長(zhǎng)度、錫珠等3D檢測(cè)，滿足工廠愈加精細(xì)化的插件檢測(cè)需求。此外，鐳晨科技也研發(fā)出下照式3D以及雙面3D檢測(cè)AOI，滿足企業(yè)更柔性化的檢測(cè)場(chǎng)景，快速響應(yīng)細(xì)分領(lǐng)域的不同檢測(cè)需求。

  當(dāng)下，電子制造行業(yè)正處于持續(xù)變革的浪潮之中。對(duì)于工業(yè)視覺檢測(cè)設(shè)備廠商而言，唯有達(dá)成技術(shù)的全方位突破，推動(dòng)產(chǎn)品能力創(chuàng)新迭代，才能契合不斷演變的市場(chǎng)需求。鐳晨科技始終秉持創(chuàng)新精神，以技術(shù)創(chuàng)新為根基，不斷突破行業(yè)技術(shù)瓶頸，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的高效迭代，深刻踐行“做最好用的AOI”的使命，為電子制造行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展貢獻(xiàn)力量。